ภาษาไทย | English

หมวดหนังสือ -> เอกสารสถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง -> ผลกระทบจากการให้ความร้อนกับฟิล์มบาง ITO ที่ใช้ในตัวตรวจวัดแสง ชนิด ITO/n-Si/ITO

คะแนนหนังสือ :
ให้คะแนน  

อ่านหนังสือ  ยืมหนังสือ
 

Title
ผลกระทบจากการให้ความร้อนกับฟิล์มบาง ITO ที่ใช้ในตัวตรวจวัดแสง ชนิด ITO/n-Si/ITO
Title.Alternative
The effects of heat treatment of ITO thin films using in ITO/n-Si/ITO photodetectors
Creator
สุรศักดิ์ เนียมเจริญ
Creator.Orgname
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง คณะวิศวกรรมศาสตร์ ภาควิชาวิศวกรรมอิเล็กทรอนิกส์
Subject
ฟิล์มบาง
Subject
ตัวตรวจวัดแสง
Subject
การให้ความร้อน
Publisher
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง. สำนักหอสมุดกลาง
Publisher.Place
กรุงเทพมหานคร
Publisher.Email
library@kmitl.ac.th
Date.Created
2558
Date.Issued
2560-08-24
Date.Modified
2560-08-24
Type
บทความ/KMITL E-Article
Format
application/pdf
Identifier.ISSN
0125-1724
Identifier.Bibliographic Citation
วิศวสารลาดกระบัง ปีที่ 32, ฉบับที่ 3 (ก.ย. 2558) 7-12
Language
tha
Rights
สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง


แสดงความเห็น
หัวข้อ
รายละเอียด
 
 
 
     แสดงความเห็น

34.237.76.91